測(cè)厚儀主要用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度。測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

超聲波測(cè)厚儀主要有主機(jī)和探頭兩部分組成。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過(guò)單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，超聲波測(cè)厚儀它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過(guò)試樣的時(shí)間的一半而得到試樣的厚度。下面介紹智能高精度測(cè)厚儀種類。

1、激光測(cè)厚儀

典型應(yīng)用于鋰電池正、負(fù)極涂布、鋰電池正負(fù)極輥壓的厚度測(cè)量，測(cè)量原理是利用激光三角法測(cè)距，測(cè)量薄膜材料的厚度。

2、離線式激光測(cè)厚儀

典型應(yīng)用于鋰電池極片涂布削薄區(qū)離線測(cè)量、軟包封印邊厚度測(cè)量，通過(guò)利用激光三角法測(cè)距原理測(cè)量材料的厚度。

3、紅外測(cè)厚儀

典型應(yīng)用于水含量、涂布量、薄膜和熱熔膠的厚度測(cè)量，測(cè)量原理是利用紅外光穿透物質(zhì)時(shí)的吸收、反射、散射等效應(yīng)實(shí)現(xiàn)無(wú)損非接觸式測(cè)量薄膜類材料的厚度。

4、光學(xué)干涉測(cè)厚儀

典型應(yīng)用于光學(xué)膜涂布、太陽(yáng)能晶元、超薄玻璃、膠帶、Mylar膜、OCA光學(xué)膠、光阻等測(cè)量，測(cè)量原理是利用紅外光穿透物質(zhì)時(shí)的吸收、反射、散射等效應(yīng)實(shí)現(xiàn)無(wú)損非接觸式測(cè)量薄膜類材料的厚度。

工件表面粗糙度過(guò)大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無(wú)法接收到回波信號(hào)。對(duì)于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過(guò)砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理，降低粗糙度，同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過(guò)耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。